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美國 狄夫斯高 defelsko 涂層測厚儀 N1

型號：N2 N3

瀏覽量：913

更新時間：2023-11-01

價格：

簡要描述：

鋁銅上的非導電涂層的厚度測量 美國 狄夫斯高 defelsko 鍍層 涂層測厚儀 N1 N2 N3

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美國 狄夫斯高 defelsko 涂層測厚儀 N1
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鋁銅上的非導電涂層的厚度測量 美國 狄夫斯高 defelsko 鍍層 涂層測厚儀 N1 N2 N3


  • 4、儀器自動歸零。

  • 測量厚度：
    1、在被測物表面滴少許耦合劑（如在光潔表面亦可用水做傳播媒介）；

2、探頭垂直放在滴有耦合劑（或水）的表面，用適中的力下壓探頭（用三只手指平均用力，以探頭的不傾斜，有利于發送和接收聲波）；



  • 4、儀器自動歸零。

  • 測量厚度：
    1、在被測物表面滴少許耦合劑（如在光潔表面亦可用水做傳播媒介）；

2、探頭垂直放在滴有耦合劑（或水）的表面，用適中的力下壓探頭（用三只手指平均用力，以探頭的不傾斜，有利于發送和接收聲波）；



  • 4、儀器自動歸零。

  • 測量厚度：
    1、在被測物表面滴少許耦合劑（如在光潔表面亦可用水做傳播媒介）；

2、探頭垂直放在滴有耦合劑（或水）的表面，用適中的力下壓探頭（用三只手指平均用力，以探頭的不傾斜，有利于發送和接收聲波）；



  • 4、儀器自動歸零。

  • 測量厚度：
    1、在被測物表面滴少許耦合劑（如在光潔表面亦可用水做傳播媒介）；

2、探頭垂直放在滴有耦合劑（或水）的表面，用適中的力下壓探頭（用三只手指平均用力，以探頭的不傾斜，有利于發送和接收聲波）；



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